離子遷移現象的捕捉

什么是離子遷移現象？

形成枝晶是電極間短路的現象。

離子遷移現象的特征：

●會(huì )在良好的絕緣的狀態(tài)下突然發(fā)生。

●短路的瞬間，因為自身電流的能量（焦耳熱），枝晶被燒損，然后恢復絕緣電阻。

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所以很容易變成瞬間的絕緣劣化現象。

 

離子遷移的信賴(lài)性試驗的作用：

●在某些領(lǐng)域是重大故障

●即便是瞬間的短路現象，在現在高速數字化處理電路中誘發(fā)錯誤動(dòng)作，在某些情況，有發(fā)展成為重大故障的風(fēng)險。

 

試驗方法是否有效？

現廣泛被使用的槽外計測，離子遷移現象是檢測不出的。所以，NG的測試樣品也直接被認定OK了。

 

市面上的遷移試驗裝置是否都能進(jìn)行準確檢測？

離子遷移是瞬間現象。即便是持續的監視試驗裝置，通道掃描或數據處理需要一定時(shí)間，正確地捕捉現象進(jìn)行適當的處理就變得很難。

 

作為試驗裝置的重要事項

●有能力準確檢測出發(fā)生枝晶的瞬間短路現象。

●在多個(gè)樣品同時(shí)測試中，什么時(shí)候哪個(gè)樣品發(fā)生離子遷移，都可以檢測到。

●為了預防枝晶燒損，顯微鏡觀(guān)察時(shí)等的證據可以查看。

 

高速抽樣處理

●J-RAS是業(yè)界最高速，16msec（62.5S/s）。

●能夠進(jìn)行離子遷移的瞬間現象捕捉。

●不只是單一的短路現象事件，而是作為電阻值的連續數據被記錄。

 

因離子遷移現象導致的電阻值變化如以下情況：



高速抽樣處理的情況：



抽樣處理慢的情況：



高速與普通處理，檢測結果有很大偏差：



全部通道同時(shí)抽樣處理：

●J-RAS是所有通道的數據同時(shí)抽樣處理。

●假如離子遷移現象同時(shí)多個(gè)通道發(fā)生，數據也不會(huì )漏掉。更準確高效得檢測樣品。

多個(gè)通道同時(shí)發(fā)生離子遷移現象的情況如下：



單一AD掃描的話(huà)，與通道數成反比例，發(fā)生通道數越多越不準確。



每個(gè)通道都分別配有AD，可以同時(shí)監測所有通道。



 

J-RAS的模擬電路能夠防止枝晶燒損

●設備配有電流限制電路，即便枝晶短路，也不會(huì )給樣品輸入超范圍的電力。

●高速16msec的抽樣處理，及時(shí)檢出電阻值低下，把模擬電路的偏壓輸出功率及時(shí)停止。（根據判定條件設定）

 

高速、多通道同時(shí)抽樣，J-RAS能夠大量數據并行處理。



 

簡(jiǎn)而言之，J-RAS設備的高速、多通道并行處理，能夠更可靠的檢測出遷移現象。