簡(jiǎn)要描述:ECM-500離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。( ION MIGRATION TEST......
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