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簡(jiǎn)要描述：離子遷移實(shí)驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。
更新時(shí)間：2024-05-14訪(fǎng) 問(wèn) 量：963廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家產(chǎn)品型號：HVUα_1000V| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
離子遷移實(shí)驗裝置 絕緣可靠性評估
產(chǎn)品特點(diǎn)
通過(guò)100n秒以下的高速事件測量功能檢測部分放電（也可以與電阻值數據同時(shí)測量）
CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別反饋對各樣品施加穩定的電壓
搭載CH個(gè)別電源&CH個(gè)別控制可對所有CH設定不同的施加電壓
因為沒(méi)有機械式繼電器的掃描，所以連續試驗中*和故障
短路檢測電路的CH個(gè)別搭載也追隨瞬間的樣品短路
通過(guò)三軸電纜的主動(dòng)保護實(shí)現低噪聲測量（測量側）
通過(guò)專(zhuān)用軟件可以顯示圖表和收錄數據
可按需配置5個(gè)通道
用途
高電壓器件的絕緣可靠性評價(jià)、功率模塊的連續耐壓評價(jià)、印刷電路板的耐遷移性能評價(jià)、其他高電壓部件的絕緣可靠性評價(jià)。
メイン畫(huà)面
テキストデータ畫(huà)面
グラフ畫(huà)面
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対応OS：WindowsXp、7、8、10
離子遷移實(shí)驗裝置 絕緣可靠性評估
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