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簡(jiǎn)要描述：離子遷移試驗設備，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
更新時(shí)間：2024-05-14訪(fǎng) 問(wèn) 量：928廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家產(chǎn)品型號：HVUα_3000V| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
離子遷移試驗設備
離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）
適用規格 ： JPCA- - ET01- - 2001
通過(guò)最大3000v直流偏壓，它可以測試TDDB測試、高壓離子遷移和絕緣測試，例如高壓設備、高壓電路板和高壓部件。
此外，HVUa系列還可以測試太陽(yáng)能系統框架和電池之間的漏電。HVUa系列可在每個(gè)通道上設置50-3000v的任何電壓
離子遷移試驗設備
支持測試檢測瞬時(shí)局部放電的最大30oov
通過(guò)每個(gè)通道反饋控制精確的輸入偏置
在1個(gè)系統中擴展最大20Och（5Och x 4case）
通過(guò)有源保護電纜進(jìn)行低噪聲測量
通過(guò)不使用機械繼電器確保高可靠性
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